X-Rite i1iO (3rd Generation) dla i1Pro 3 Plus

i1iO dla i1Pro 3 Plus

Robot i1iO dedykowany i1Pro 3 Plus to automatyczny system pomiaru wzorców kalibracyjnych zaprojektowany dla fotografów, projektantów graficznych i przemysłu drukarskiego oraz wszystkich tych, którzy pragną przyspieszyć i zautomatyzować proces pomiaru eliminując konieczność ręcznego sczytywania próbek!

Automatyzacja dla perfekcjonistów

Nowy poziom automatyzacji pracy oraz większa wszechstronność spektrofotometru i1Pro 3. Robot i1iO dla i1Pro 3 Plus to automatyczny system pomiaru wzorców kalibracyjnych dedykowany urządzeniu i1Pro 3. To idealne rozwiązanie dla wszystkich pragnących przyspieszyć i zautomatyzować proces pomiaru eliminując konieczność ręcznego sczytywania próbek!

i1iO umożliwia szybki pomiar podłoży o wysokim połysku do 10 mm grubości – od cieniutkiego tworzywa, po ceramikę i tekstylia. Dzięki opcjonalnemu adapterowi z-axis zmierzysz próbkę o grubości do 33 mm!

Połącz urządzenie i1Pro 3 z robotem i1iO, aby szybko tworzyć niestandardowe profile, zapewnić spójne i wiarygodne wyniki eliminując tym samym błędy pomiarowe i zwiększając produktywność. i1iO to proste w obsłudze urządzenie, które pozwoli na zwiększenie funkcjonalności systemu i1Pro 3.

Nowy poziom automatyzacji stworzony z myślą o profesjonalistach, dla szybkiego i dokładnego pomiaru wzorców kalibracyjnych!

Kolor doskonały

Ręczny pomiar wzorców kalibracyjnych jest czasochłonny i pozostawia duże pole do popełnienia błędu. Nowy model i1iO został opracowany tak, aby idealnie współpracować z i1Pro 3 Plus, zapewniając prosty sposób na zwiększenie funkcjonalności, wszechstronności oraz przyspieszając proces pomiarowy.

Potrzebujesz dodatkowej funkcjonalności? Sprawdź najnowsze rozwiązania X-Rite i1Photo Pro 3 Plus oraz i1Publish Pro 3 Plus.

Prosty. Szybki. Wszechstronny.

• Pomiar koloru z powierzchni o grubości do 10 mm grubości. Pomiar próbki o grubości do 33 mm z opcjonalnym adapterem Z-axis.
• Idealny do pomiaru cienkich tworzyw sztucznych, papieru fotograficznego, tektury falistej, ceramiki itp.
• Pomiar ponad 500 pól na minutę w trybie skanowania i pomiaru M0
• Dzięki pełnej automatyce daje elastyczność i znacznie ułatwia pracę.